RapidXAFS HEX射線吸收譜儀

RapidXAFS具有如下特點:

最高光通量產品

光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采譜效率數倍于其他產品；獲得和同步輻射一樣的數據質量

優異的穩定性

光源單色光強度穩定性優于0.1%，重復采集能量漂移<50 meV

1%探測極限

高光通量、優異的光路優化和較好的光源穩定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質量EXAFS數據

儀器原理

X射線吸收精細結構(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

RapidXAFS HEX射線吸收譜儀主要有以下優點：

1.不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；

2.不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；

3.對樣品無破壞，在大氣環境下測試，可進行原位測試；

4.不受樣品狀態影響，可測量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態)和氣體等；

5.能獲得配位原子種類、配位數及原子間距等結構參數，原子間距精確度可達0.01A。

Mn數據，Mn K-edge XAFS數據，數據與同步輻射光源一致

Fe樣品Kβ發射譜數據：core to core XES 和 valence to core XES

XAFS譜主要包括兩部分:X射線吸收近邊結構(XANES)和擴展X射線吸收精細結構(EXAFS)。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV，來源于X射線激發出來的內層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應的結果。XANES包含了吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍，其主要來源于X射線激發出的內殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應。

可測元素：綠色部分可測K邊，黃色部分可測L邊

應用：

• 工業催化

• 儲能材料

• 納米材料

• 環境毒理

• 也質分析

• 重元素分析